Spectrométrie à décharge luminescente GDS900

Manufacturer: Leco
HTTS ref.: HTS-SA-0533
HTDS ref.: SPECTROMETRIE A DECHARGE LUMINESCENTE GDS900
Division: Sciences Analytiques

Description

La spectrométrie à décharge luminescente (LD) est une technique avancée d’analyse utilisée pour caractériser la composition élémentaire des matériaux. Elle repose sur l’émission de lumière (luminescence) produite par l’ionisation des échantillons sous l’effet d’une décharge. Cette technique permet d’analyser la composition chimique et les propriétés des surfaces de divers matériaux, en utilisant un spectromètre pour détecter les émissions lumineuses générées lors de l’ionisation des éléments présents dans l’échantillon. Lors de l’analyse, une source de décharge est utilisée pour exciter les atomes du matériau, provoquant leur ionisation et l’émission de lumière spécifique à chaque élément chimique. Les photons émis sont ensuite capturés par un détecteur optique et analysés pour obtenir un spectre de masse détaillé.

Les spectromètres LECO d’émission atomique à décharge luminescence vous offrent des solutions pour l’analyse élémentaire sur la plupart des métaux ferreux en contrôle de production et en recherche/développement. Ils délivrent des analyses élémentaires et quantitatives de surface très précises pour l’étude des revêtements et traitements de surface.

Technical specifications

CCD 0: Sample Chamber
CCD 3: Air
CCD 7: Manifold
Purge: P Pneumatic
Plasma: Filter
Source: 4 mm diameter Grimm-type glow discharge (2 mm optional)
Exhaust: Mirror 2 P
GDS900C: GDS900 Package with PC, touch-screen, software
Grating: 40 psi
Detector: Charge-coupled array with 16,000 active pixels (14.0 mm W x 0.9 mm H pixel size)
Entrance: Manifold
Humidity: 20 to 80% (non-condensing)
Pressure: Argon
Dimensions: 51 in H x 21 in W x 85 in D (129.5 cm H x 53.3 cm W x 215.9 cm D); instrument only
Purge Exit: Switch 40 psi
Resolution: 50 pm (0.050 nm)
CCD 6 CCD 4: Shutter
Vacuum Pump: External vacuum pump (optional noise abatement enclosure)
Purge System: 0.25 lpm N2 (UHP) with optional recirculating system
Thermal Load: 1800 Btu/hr
Source Cooling: Internal closed-loop water recirculation system
Spectral Range: Complete spectral coverage (160 nm to 460 nm)
Weight (approx.): 700 lb (317.5 kg)
Source/Spectrometer: Argon, 99.998% purity, 40 psi (2.8 bar) ±10%
Form No. 209-250-001: 8/18-REV2 © 2018 LECO Corporation
Sound Pressure Level: 53 dBa (max reading at operator's level per IEC/EN 61010-1)
Operating Temperature: 18 C to 30 C (64 F to 86 F)
(to Ext Spect)Mirror 3: Cathode
Gas Requirements Pneumatics: 60 psi (4.1 bar) ±10% (oil and water free)
[email protected] | www.leco.com |ISO-9001: 2008 •HQ-Q-994 | LECO is a registered trademark of LECO Corporation.
Avantages du système au niveau utilisation: Très facile à utiliser, à entretenir et à supporter.Le nettoyage automatique entre les essais permet de gagner du temps, minimise les effets matrices pour une précision accrue.La conception de la lampe ouverte et les commandes ambidextre permettent une utilisation à droite et à gauche.
Specifications and part numbers may change.: ®
Avantages de la source à décharge luminescente: Calibrages simples et linéaires par rapport à d’autres sources.Excitation contrôlée qui se produit loin de la surface de l’échantillon.Réduction de la consommation de matériaux de référence.
3000 Lakeview Avenue | St. Joseph, MI 49085 | 800-292-6141 | Phone: 269-985-5496

Applications

Analyse de métaux et alliages : Identification précise des éléments chimiques présents à la surface des matériaux métalliques.
Étude des semi-conducteurs : Caractérisation des surfaces des semi-conducteurs et des matériaux électroniques de haute technologie.
Contrôle qualité dans l’aérospatiale : Inspection des composants aérospatiaux pour assurer la qualité et la performance des matériaux.
Industrie automobile : Analyse des revêtements et des traitements de surface appliqués aux composants automobiles.
Évaluation des couches minces : Étude des revêtements fins et des traitements de surface sur des matériaux divers.
Recherche en matériaux de haute technologie : Développement et analyse de nouveaux matériaux avec des propriétés spécifiques pour des applications avancées.
Détection des contaminants et éléments traces : Identification des éléments traces ou contaminants dans les matériaux et échantillons analysés.